فیلترها/جستجو در نتایج    

فیلترها

سال

بانک‌ها




گروه تخصصی










متن کامل


اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1396
  • دوره: 

    -
  • شماره: 

    80
  • صفحات: 

    1-9
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    521
  • دانلود: 

    144
چکیده: 

طراحی و ساخت نمونه ی آزمایشگاهی آندولاتور برای اولین بار در کشور در حال انجام است. آندولاتور، با تولید میدان مغناطیسی با تناوب مکانی و شدت مناسب، سبب حرکت سینوسی الکترون هایی می شود که در راستای محور آن حرکت می کنند و در نتیجه تابش سینکروترونی با ویژگی های خاص تولید می کند. در این مقاله، ابتدا خطای پریود و خطای شدت میدان معرفی، و سپس تأثیر آن ها بر خواص هارمونیک های تابش سینکروترونی ارزیابی می شوند. خطاهای کاتوره ای پریود با استفاده از نرم افزار متلب، و شدت میدان تولید شده و به کار رفته بر میدان یک آندولاتور ایده آل و تأثیر آن ها بر شدت قله -ها به کمک کد B2E مطالعه شده است. نتایج نشان می دهند با افزایش هارمونیک ها، تأثیر خطاها به طور قابل توجه ی بیش تر می شوند. هم چنین به طور کلی می توان دریافت که تأثیر خطای شدت میدان از تأثیر خطای پریود میدان بیش تر است. نتایج محاسبات نشان می دهد برای رسیدن به شدت بالای 90% در هارمونیک های اول و سوم تابشی، میزان مجاز در خطای شدت میدان و پریود باید به ترتیب کم تر از 1% و 3 درجه، و میزان خطای در اندازه ی شکاف نباید از mm 15± 0. 2 بیش تر باشد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 521

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 144 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1388
  • دوره: 

    -
  • شماره: 

    8
  • صفحات: 

    41-47
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1075
  • دانلود: 

    252
چکیده: 

ترانزیستورهای اثر میدانی یکی از مهم ترین قسمت های مدارهای مجتمع می باشند. در ساختار این نوع ترانزیستورها، الکترود فلزی بر روی لایه ای از اکسید سیلیکون قرار گرفته است و زیر لایه نیز از جنس سیلیکون اختیار شده است. ما عنصر نقره را به عنوان الکترود اختیار نمودیم و با استفاده از طیف های گرفته شده از تکنیک تابش های سینکروترونی که تکنیک حساس به سطح است تلاش کردیم تا ببینیم که آیا می توان ازنانوساختار نقره در تماس با فیلم اکسید بدین منظور استفاده کرد یا نه. علاوه بر آن تاثیر میدان های الکتریکی عبوری از آن را نیز بررسی کردیم. تغییرات موضعی در Ag/SiO2/Si نشان می دهد که فیلم تشکیل دهنده بر زیر لایه ی سیلیکونی تمام سطح آن را پوشش می دهد به طوری که شاهد فیلم یکنواختی هستیم و هم چنین میدان ضعیف الکتریکی در فیلم های نازک تراکسید (کمتر از (2nm نسبت به فیلم ضخیم تر از آن به دست آمده است.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1075

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 252 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

رزم آرا مرتضی

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1382
  • دوره: 

    11
  • شماره: 

    2
  • صفحات: 

    109-120
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1130
  • دانلود: 

    229
چکیده: 

سولفیدهای  Ag=A) ABS2یا Cu و Bi=B، Sb یا As) گروهی از کانیهای طبیعی هستند که بیشتر در کانسارهای رگهای پلیمتالیک یافت می شوند. گر چه این کانیها از نظر ترکیب شیمیایی ساده به نظر می رسند اما از نظر ساختاری پیچیده اند و دستخوش گذار فازهای متعددی می شوند. در مطالعه سری سولفوسالت های سنتز شده، از سینکروترون برای دریافت داده های  K-edge EXAFSعناصر Cu، Bi، Sb، Ag، As و Cd استفاده شد. داده های مورد نیاز موقعیت کاتیونهای اصلی و فرعی در فازهای جانشین شده به صورت موضعی، از آنالیز طیف ها به طور مستقیم به دست آمدند. علاوه بر این، مطالعات EXAFS برای تعیین ساختار و رفتار کاتیونها در مکانهای ساختاری انجام شد. طول پیوندهای As-S، As-Ag، Ag-S، Cu-Bi، Bi-Sb، Bi-S، Sb-S، Cu-S و As-As نیز در کانیهای میارژیرایت، امپلکتایت، چلکستیبایت، و اسمیتایت به روش بیناب نمایی جذب پرتو XAS تعیین شدند.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1130

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 229 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1389
  • دوره: 

    10
  • شماره: 

    2
  • صفحات: 

    131-134
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    689
  • دانلود: 

    170
چکیده: 

نمایه های تمام پراش تابش سینکروترونی از نمونه پودری (YBCOx) YBa2Cu3O6+x در دماهای اتاق و 500oC توسط روش ریتولد پالایش شده است و با رسم نمودار ویلیامسون - هال (W-H) دیده می شود که پهن شدگی قله ها فقط از روال پهن شدگی همسانگرد که ناشی از کرنش و اندازه بلورک هاست پیروی نکرده و پهن شدگی تعداد خاصی از قله ها با نمایه های میلر (hh0) و (h00) بیانگر پهن شدگی از نوع غیر همسانگرد بوده که می تواند مؤید تشکیل ریز ساختارهای دوقلویی در راستای عمود بر صفحات (110) باشد. از تحلیل W-H اندازه متوسط بلورک ها وکرنش درونی آنها نیز استنتاج شده است.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 689

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 170 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1391
  • دوره: 

    -
  • شماره: 

    1 (مسلسل 59)
  • صفحات: 

    8-14
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1707
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

روش اجزای محدود و نیز روش مونت کارلو، دو روش بسیار کاربردی و پایه ای در بسیاری از نرم افزارهای شبیه سازی و مدل سازی هستند. ترابرد ذرات باردار در میدان الکتریکی و مغناطیسی بر پایه این دو روش، به وسیله تعدادی از نرم افزارها امکان پذیر است. اما تعداد معدودی از نرم افزارها از امکان ترابرد تابش ثانویه حاصل از حرکت ذره باردار در میدان مغناطیسی برخوردارند. کد Fluka یکی از این نوع نرم افزارها است. در این مقاله، مدل سازی و شبیه سازی انجام شده برای بررسی تابش سینکروترونی الکترون به وسیله این کد ارایه شده است. نتیجه به دست آمده، با آن چه که از روابط فیزیکی مورد انتظار است، کاملا مطابقت دارد. بررسی زوایای خروجی باریکه فوتونی تابش سینکروترون و کاهش انرژی آن از نتایج این مقاله است. این بررسی ها با کارت ویژه میدان magfld و کارت usrbin انجام شده است.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1707

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1387
  • دوره: 

    8
  • شماره: 

    1
  • صفحات: 

    1-7
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    924
  • دانلود: 

    222
چکیده: 

اکسید تیتانیوم و نیترید آلومینیوم را در شرایط به ترتیب فشار بالا و فشار بسیار پایین بر زیر لایه سیلیکونی رشد داده ایم و با استفاده از تکنیکهایی نظیر تابش سینکروترونی، AES (Auger Electron Spectroscopy) و SEM (Scanning Electron Microscope) به مطالعه ساختار آنها پرداختیم. بررسیهای به عمل آمده نشان می دهند که فیلم آمورف اکسید تیتانیوم و یا نیترید آلومینیوم بر زیر لایه سیلیکون شکل گرفته است که این ویژگی در کنار بالا بودن ثابت دی الکتریک آنها، می تواند از آنها یک گیت دی الکتریک مناسب به جای اکسید فرا نازک سیلیکون بسازد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 924

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 222 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1397
  • دوره: 

    18
  • شماره: 

    2
  • صفحات: 

    251-261
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    910
  • دانلود: 

    255
چکیده: 

یکی از مهم ترین نتایج تابش نوترون بر روی هدف جابه جایی اتم های ماده از محل ثابت خود در شبکه کریستالی در پی یک واکنش هسته ای می باشد، که این پدیده موجب ایجاد آسیب تابشی نوترونی می شود. آسیب تابشی نوترونی را می توان با استفاده از تابش یون های سبک و سنگین شبیه سازی کرد، این روش شرایط انعطاف پذیری را در زمان تابش یون فراهم می آورد. داشتن دانش مقدماتی از اتم های پس زده شده اولیه (PKA)1و همچنین چگونگی توزیع عیوب نقطه ای ثانویه نسبت به انرژی اتم های پس زده اولیه نخستین گام برای شبیه سازی آسیب تابشی نوترونی می باشد، سپس محاسبه میزان آسیب «جابه جایی به ازای هر اتم شبکه (DPA)2» و چگونگی نفوذ عمقی آسیب در نمونه مراحل بعدی محاسبات است. در این مطالعه از کد MCNPX و کد SRIM به ترتیب برای شبیه سازی برهم کنش نوترون و یون های پر انرژی با مواد استفاده شده و سپس یک برنامه جدید ( AMTRACK) با نرم افزار MATLAB نوشته شده که مشخصات PKA ها و همچنین مشخصات عیوب نقطه ای ایجاد شده را مورد تجزیه و تحلیل قرار می دهد. با مقایسه طیف اتم های پس زده شده و همچنین طیف وزنی عیوب نقطه ای ناشی از یون ها و نوترون ها چگونگی آسیب یونی و نوترونی مقایسه می شود و بهترین یون ها برای شبیه سازی آسیب تابشی نوترونی در راکتورها تعیین می شوند. هدف نهایی ما این است که با توسعه برنامه ای مقدمات فیزیکی و آزمایشگاهی لازم برای جایگزینی تابش یون به جای تابش نوترون را فراهم کرده و از این طریق به آسیب تابشی نوترونی دست پیدا کنیم.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 910

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 255 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

خلیلی علی | رضایی ح.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    0
  • دوره: 

    13
  • شماره: 

    1 (پیاپی 48)
  • صفحات: 

    15-35
تعامل: 
  • استنادات: 

    9
  • بازدید: 

    851
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

0

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 851

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 9 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1393
  • دوره: 

    22
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    97-102
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    768
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

فاز ابر ساختاری ارتورمبیک II (OII) در نمونه های چند بلوری YBCOx با استفاده از فناوری تابش سینکروترونی با تفکیک بالا (HRPD) وبه صورت آزمایش درجا در دمای 300oC دیده شد. از پالایش ریتولد برای تحلیل الگو های پراش از نمونه های تهیه شده تحت فشار جزیی اکسیژن مناسب استفاده شده است. مطالعه ما نشان می د هد که پس از جذب اکسیژن نمونه دچار انتقال فاز ساختاری از تتراگونال به فاز ابرساختار OII در ضریب اکسیژن x»0.6 می گردد. مطابق با مطالعه قبلی ما این انتقال فاز از قاعده تراز گیبس برای انتقال فاز مرتبه اول پیروی می کند. شواهد مبنی بر وجود فاز ابر ساختاری OII غالب در نمونه های پودری در دمای 300oC می تواند تصحیح قابل توجهی در نمودار فاز ساختاری YBCOx بشمار آید که از موضوعات مورد بحث و سابقه دار بوده و از نظر کاربردی مورد توجه می باشد. متن کامل این مقاله به زبان انگلیسی می باشد، لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله به بخش انگلیسی مراجعه فرمایید.لطفا برای مشاهده متن کامل این مقاله اینجا را کلیک کنید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 768

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1393
  • دوره: 

    21
تعامل: 
  • بازدید: 

    388
  • دانلود: 

    123
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (pdf) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 388

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 123
litScript
telegram sharing button
whatsapp sharing button
linkedin sharing button
twitter sharing button
email sharing button
email sharing button
email sharing button
sharethis sharing button